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QNix 7500兩用探頭測厚儀
QNix 7500兩用探頭測厚儀
測厚儀按照測量的方式不同，可大致分為：1、接觸式測厚儀接觸面積大小劃分：點接觸式測厚儀面接觸時測厚儀
2、非接觸式測厚儀非接觸式測厚儀根據其測試原理不同，又可分為以下幾種：激光測厚儀：是利用激光的反射原理，根據光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產品的厚度，是一種非接觸式的動態測量儀器。它可直接輸出數字信號與工業計算機相連接，并迅速處理數據并輸出偏差值到各種工業設備。超聲波測厚儀：超聲波測厚儀是根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播的各種材料均可采用此原理測量。涂層測厚儀：用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.X射線測厚儀：利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心，采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統，達到要求的軋制厚度。主要應用行業：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業的板帶加工.白光干涉測厚儀電解式測厚儀
QNix7500：
通過與工藝，行業和服務行業的用戶密切合作，已經創建了一個模塊化涂層厚度計，將各種經過驗證的QNix7500量規的許多特性結合在一個設備中。模塊化測量系統QNix7500是一種特別小巧便利的涂層厚度計，可直接插入微型探頭。為了靈活使用，微型探頭也可以連接到延長電纜。QNix7500模塊化測量系統提供高達5000μm的移動性，高測量精度，易于處理和不同尋常的應用。 QNix7500是一種特別小巧便利的測量儀，用于對所有Fe和NFe襯底上的涂層厚度進行非破壞性測量。可以通過直接插入微型探頭或將探頭連接到插入的延長電纜上使用。
QNix 7500兩用外置探頭測厚儀
影響測厚儀測量數值的主要因素：
1.工件表面粗糙度過大，造成探頭與接觸面耦合效果差，反射回波低，甚至無法接收到回波信號。對于表面銹蝕，耦合效果極差的在役設備、管道等可通過砂、磨、挫等方法對表面進行處理，降低粗糙度，同時也可以將氧化物及油漆層去掉，露出金屬光澤，使探頭與被檢物通過耦合劑能達到很好的耦合效果。 2.鑄件、奧氏體鋼因組織不均勻或晶粒粗大，超聲波在其中穿過時產生嚴重的散射衰減，被散射的超聲波沿著復雜的路徑傳播，有可能使回波湮沒，造成不顯示。可選用頻率較低的粗晶探頭(2.5MHz)。 3.被測物背面有大量腐蝕坑。由于被測物另一面有銹斑、腐蝕凹坑，造成聲波衰減，導致讀數無規則變化，在情況下甚至無讀數。 4.金屬表面氧化物或油漆覆蓋層的影響。金屬表面產生的致密氧化物或油漆防腐層，雖與基體材料結合緊密，無名顯界面，但聲速在兩種物質中的傳播速度是不同的，從而造成誤差，且隨覆蓋物厚度不同，誤差大小也不同。
