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  • 德國(guó)EPK測(cè)厚儀GALVANOTEST篤摯
    德國(guó)EPK測(cè)厚儀GALVANOTEST篤摯

    德國(guó)EPK測(cè)厚儀GALVANOTEST篤摯,應(yīng)用庫(kù)侖電量分析原理。其過(guò)程類似于電鍍,但電化學(xué)反應(yīng)的方向相反,是電解除鍍。可以用于測(cè)量幾乎所有基體上的電鍍層厚度。基體包括鋼鐵、有色金屬以及絕緣材料。例如鐵上鑷、鐵上鋅、銅上銀、環(huán)氧樹(shù)脂上的銅等。

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  • elektrophysik PENTEST筆試便攜測(cè)厚儀
    elektrophysik PENTEST筆試便攜測(cè)厚儀

    elektrophysik PENTEST筆試便攜測(cè)厚儀特點(diǎn)鮮明:采用性磁頭。無(wú)需電源供應(yīng)。無(wú)需標(biāo)定。在任何角度可以測(cè)試。操作簡(jiǎn)單,攜帶方便。價(jià)格便宜。

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  • EPK QuintSonic 5涂層測(cè)厚儀
    EPK QuintSonic 5涂層測(cè)厚儀

    EPK QuintSonic 5涂層測(cè)厚儀:探頭置于涂層表面,探頭將發(fā)出的超聲波脈沖穿過(guò)涂層到達(dá)基體,這些超聲波脈沖從各層界面依次反射,又被探頭的超聲傳感器所接受,微處理度和涂層總厚度。一次測(cè)量耗時(shí)少于2秒,數(shù)據(jù)被分組存儲(chǔ),接上MININPRINT,還可以打印輸出所有有序存儲(chǔ)的讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。

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  • EPK德國(guó)QuintSonic 7超聲波涂層測(cè)厚儀
    EPK德國(guó)QuintSonic 7超聲波涂層測(cè)厚儀

    EPK德國(guó)QuintSonic 7超聲波涂層測(cè)厚儀:采用創(chuàng)新技術(shù)的QuintSonic 7是*個(gè)可以準(zhǔn)確測(cè)量GRP(熱固性塑料或玻璃鋼)和CRP(低溫鋼)工件上涂層厚度的測(cè)厚儀。

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  • PhysiTest濕膜輪機(jī)械式涂層測(cè)厚儀
    PhysiTest濕膜輪機(jī)械式涂層測(cè)厚儀

    德國(guó)EPK公司PhysiTest濕膜輪測(cè)厚儀:PhysiTest濕膜輪機(jī)械式涂層測(cè)厚儀 PhysiTest濕膜輪測(cè)厚儀可以用于測(cè)量平坦或彎曲表面的濕膜厚度。 PhysiTest濕膜輪測(cè)厚儀由兩個(gè)外同心輪和一個(gè)內(nèi)偏心輪組成。當(dāng)濕膜輪在涂層表面滾動(dòng)時(shí),內(nèi)輪接觸并粘起濕膜時(shí)所對(duì)應(yīng)的刻度即為濕膜厚度。

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  • MIKROTEST測(cè)厚儀?型號(hào)MIKROTEST 6 Ni100
    MIKROTEST測(cè)厚儀?型號(hào)MIKROTEST 6 Ni100

    MIKROTEST測(cè)厚儀?型號(hào)MIKROTEST 6 Ni100:MIKROTEST塑料涂層測(cè)厚儀易于操作,測(cè)量時(shí)只需向前旋動(dòng)指輪到標(biāo)尺端部,將測(cè)頭定在測(cè)量區(qū)上,松開(kāi)自鎖機(jī)構(gòu),開(kāi)始自動(dòng)測(cè)量。MIKROTEST鎖定后,就能直接在標(biāo)尺上顯示出涂層厚度的正確值,單位μm或mm。按說(shuō)明書(shū)規(guī)定操作,MIKROTEST塑料涂層測(cè)厚儀可不間斷地使用很多年,為您進(jìn)行質(zhì)量控制。

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  • Mintest 1100鍍層測(cè)厚儀篤摯代理
    Mintest 1100鍍層測(cè)厚儀篤摯代理

    Mintest 1100鍍層測(cè)厚儀篤摯代理:MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;所有型號(hào)均可配所有探頭;可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。

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  • MiniTest 730elektrophysik表面電鍍層厚度測(cè)量?jī)x
    elektrophysik表面電鍍層厚度測(cè)量?jī)x

    elektrophysik表面電鍍層厚度測(cè)量?jī)x--MiniTest 730 -溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤 -生產(chǎn)過(guò)程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高度的特征曲線 -大存儲(chǔ)量,能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù) -讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出

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