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MiniTest 600B-F3磁性膜厚儀精準測量

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MiniTest 600B-F3磁性膜厚儀精準測量

測量范圍：

F型：0～3000μm；N型：0～2000μm；

FN型：0～3000μm（F），0～2000μm（N）
誤差：±2μm或±2～4％
zui小曲率半徑：5mm（凸）；25mm（凹）
zui小測量面積：φ20mm
zui小基體厚度：0.5mm（F）；50μm（N）
顯示：4位數顯，背光可選
測量單位：um-mils可選
校準方式：標準、一點、兩點
電源：2節5號電池
儀器尺寸：64×115×25mm
探頭尺寸：φ15×62mm
標準配置：主機、探頭、便攜箱、標準箔、電池、操作說明

MiniTest 600 B-F3 (存儲統計型，鐵基涂層,0-3000um,含校準箔,防塵套，分辨率1um) ，儀器體型小巧堅固，測量快速，采用了磁感應原理，F型測頭根據磁感應原理，測量鋼或鐵基體上的非磁性覆層。例如:鋁、鉻、銅、鋅、涂料、琺瑯、橡膠等，也適合于合金和硬質鋼。

MiniTest 600B-F3磁性膜厚儀精準測量

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