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涂層測厚儀CMI243華東代理
產品特點:涂層測厚儀,可測量:磁性底材上的非磁性涂層厚度,如鋼鐵上的非磁性涂鍍層,油漆、塑料、搪瓷、鉻、鋅等;非磁性底材上的非磁性涂層厚度,如銅、鋁、奧氏體不銹鋼上的所有絕緣層,陽極氧化膜、油漆、涂料等。
涂層測厚儀CMI243使用方法如下:
1,基體金屬特性:對于磁性方法,標準片的基體金屬的磁性和表面 粗糙 度 ,應當與試件基體金屬的磁性和表面 粗糙度 相似。
2,基體金屬厚度:檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,如果沒有,進行校準后,可以測量。
3,邊緣效應:不應在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。
4,曲率:不應在試件的彎曲表面上測量。
5,讀數次數:通常由于儀器的每次讀數并不*相同,因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內進行多次測量,表面粗造時更應如此。
6,表面清潔度:測量前,應清除表面上的任何附著物質,如塵土、油脂及腐蝕產物等,但不要除去任何覆蓋層物質。
7,磁場:周圍各種電氣設備所產生的磁場會嚴重干擾磁性測厚工作
8,測頭取向:測頭的放置方式對測量有影響,在測量時應該與工件保持垂直CMI243測量了導電涂層在導電層上的涂層厚度。
涂層測厚儀CMI243 允許使用良好的ed電流技術控制電鍍涂層工藝。它為導電層的導電涂料提供無損涂層厚度測量。
該系統是專門設計來滿足平臺、操作人員和質量專業人員的需要的。標準的包裝包括一個控制裝置,一個ecp-m渦流探針和一組鋼標準的鋼標準可追溯的校準標準。ecp-m探針是專門為金屬材料的金屬涂層而設計的,如鋼的鋅。
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